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根据客户的测试需求,定制相关夹具:自定义背板/连接器,国内外分立电阻电容电感器件, 自研芯片、线缆等测试夹具。符合测试标准,精确测量客户待测物的真实性能。可根据测试场景选择TRL/ISD/AFR等多种去嵌方法,均能完全去除夹具的影响,去嵌精度:回损-40dB@67GHz,插损±0.1dB@67GHz